直讀光譜分析儀的使用過程中有好多分析方法，之前說過的是內標法，下面為大家講解的是控制試樣法。
 

　　光源激發(fā)條件事實上是有變化的，即使每次經過予燃以后仍如此。控制試樣法主要就是用來檢查光源激發(fā)的變化以及用來校正光源激發(fā)不穩(wěn)定而引起的分析結果的偏差。控制樣品本身從某種意義上講就是一個標準樣品，它的化學成分和狀態(tài)更接近生產實際，可通過控制樣品結果的變化，從而檢查工作曲線有無移動。應用控制樣品的目的是作快速分析，分析時，只激發(fā)一個控制樣品即完成了分析任務。因為日常分析時控制樣品和分析樣品是在同一時間內進行的，每個樣品激發(fā)二次，所得分析結果的變化，應該彼此相似。可以減少控制標樣和分析樣品性質狀態(tài)的不一致所引起的第三元素影響或者組織結構的影響，使分析結果不準。這些影響往往只使工作曲線產生一些移動。
 

　　遇到下列三種情況時，都可以用控制試樣法進行：
 

　　1、以二元合金標樣作出工作曲線做復雜合金分析時。
 

　　2、以熱軋狀態(tài)的標樣做同一牌號的合金的澆鑄狀態(tài)的分析任務。
 

　　3、各種牌號的合金歸類用同一組標準樣品作出的工作曲線進行分析。
 

　　由于控制試樣法在日常分析中，用途很廣，因此使用控制試樣法應該注意以下問題：
 

　　1、控制樣品的含量與分析樣品含量愈接近愈好。
 

　　2、控制試樣的鋼種和牌號與分析樣品接近，物理的及化學的性質與分析樣品相同。
 

　　3、控制試樣要有準確的分析結果，光譜的均勻性檢驗要好，分析結果的再現性要好